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SN74BCT8244ADWE4

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Especificaciones
  • Número de pieza
    SN74BCT8244ADWE4
  • Fabricante / Marca
  • Cantidad de stock
    Existencias disponibles
  • Descripción
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • Estado Libre de plomo / Estado RoHS
    Sin plomo / Cumple con RoHS
  • Modelo ECAD
  • Tensión de alimentación
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paquete del dispositivo
    24-SOIC
  • Serie
    74BCT
  • embalaje
    Tube
  • Paquete / Cubierta
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Temperatura de funcionamiento
    0°C ~ 70°C
  • Número de bits
    8
  • Tipo de montaje
    Surface Mount
  • Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Tiempo de entrega estándar del fabricante
    6 Weeks
  • Tipo de lógica
    Scan Test Device with Buffers
  • Estado sin plomo / Estado RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Descripción detallada
    Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
  • Número de pieza base
    74BCT8244
7014S12J8

7014S12J8

Descripción: IC SRAM 36K PARALLEL 52PLCC

Fabricantes: IDT (Integrated Device Technology)
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